高低溫沖擊熱流儀適用范圍工作原理
高低溫沖擊熱流儀(也叫冷熱沖擊氣流儀 / 熱流儀)是一種通過(guò)高速、精準(zhǔn)噴射高低溫氣流,對(duì)產(chǎn)品局部進(jìn)行快速溫度沖擊的可靠性測(cè)試設(shè)備。

一、適用范圍
半導(dǎo)體 / 芯片:IC、晶圓、處理器等溫度循環(huán)與失效分析
電子電路:PCB 板、光模塊、連接器、傳感器、BGA、LED
小型器件:微型電機(jī)、電池、精密五金、塑膠零件
研發(fā)測(cè)試:產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、失效分析、材料特性研究
二、工作原理
雙溫區(qū)準(zhǔn)備
高溫:內(nèi)置加熱器,將空氣加熱至設(shè)定高溫(如 + 125°C ~ +225°C)
低溫:制冷系統(tǒng)(壓縮 / 液氮)將空氣冷卻低溫(如 - 45°C ~ -100°C)
高速氣流噴射
設(shè)備產(chǎn)生高壓、干燥、潔凈的恒溫氣流
通過(guò)噴嘴 / 風(fēng)罩精準(zhǔn)對(duì)準(zhǔn)被測(cè)樣品局部區(qū)域
溫度沖擊切換
內(nèi)部閥門(mén)毫秒級(jí)快速切換高低溫氣流
樣品局部溫度在數(shù)秒內(nèi)完成高溫?低溫劇烈交變
局部精準(zhǔn)測(cè)試
只對(duì)目標(biāo)元件加熱 / 制冷,不影響周邊器件
實(shí)時(shí)監(jiān)控樣品溫度,配合電性能測(cè)試捕捉失效點(diǎn)


